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Mentor Tessent VersaPoint测试点技术帮助Renesas降低成本和改进质量

2017-11-07 09:41 来源:laoyaoba.com 作者:

Mentor,aSiemensbusiness今日宣布在Tessent®ScanPro和TessentLogicBIST产品中推出VersaPoint™测试点技术,这些产品仍旧符合ISO26262质量认证要求。VersaPoint测试点技术不仅能够降低制造测试成本,还能改进在系统测试的质量——对于汽车和其他行业的高质量IC而言,这两条要求至关重要。Mentor还宣布RenesasElectronics已经在该公司的汽车IC中采用了VersaPoint技术,以解决安全关键的测试要求,从而达到汽车安全完整性级别(ASIL)C和D认证标准。

Mentor Tessent VersaPoint测试点技术帮助Renesas降低成本和改进质量

Mentor Tessent VersaPoint测试点技术帮助Renesas降低成本和改进质量

汽车IC中的数字电路通常混合采用片上压缩/ATPG和逻辑内建自测(LBIST)技术来进行测试,从而让制造测试达到极高的缺陷覆盖率,进而实现在系统测试和上电自测试。

测试点是用于改进测试效果的专用设计结构。传统的LBIST测试点通过解决IC中的“随机模式障碍”来改进测试结果。Mentor近期专门针对片上压缩/ATPG的混合使用开发了测试点,相对于仅使用片上压缩的情况,可将ATPG模式数减少2-4倍。TessentVersaPoint测试点技术组合了这些技术,并在它们的基础上进行了改进。

“为了提供业界领先的汽车IC产品,Renesas使用测试点来帮助达到严格的IC测试要求,”RenesasElectronicsCorporation汽车SoC业务部门副总裁HisanoriIto说道。“利用TessentVersaPoint测试点技术,我们再也无需针对不同类型的IC使用单独的解决方案。如此一来,只需通过制造和在系统测试,我们便能改进质量并降低成本。简化的DFT实施流程还可缩短开发周期,加快产品上市时间。”

与传统的LBIST测试点相比,TessentVersaPoint技术可以提高LBIST测试覆盖率。而与使用片上压缩/ATPG测试点相比,它还可以更好地减少ATPG模式数。这种技术是专为使用Tessent混合ATPG/LBIST技术的测试工程师而设计的,旨在降低测试成本、改进测试质量,特别是针对面向汽车应用的IC产品。

“随着设计尺寸不断增长,质量要求变得更加严格,我们的客户也一直在努力降低测试成本”,MentorTessent产品系列营销总监BradyBenware说道。“与此同时,市场对高可靠性应用中的高效在系统测试的需求也在持续增长。借助VersaPoint测试点技术,我们的客户可以通过更有效的方法,同时满足制造和在系统测试要求。”Mentor,aSiemensbusiness今日宣布在Tessent®ScanPro和TessentLogicBIST产品中推出VersaPoint™测试点技术,这些产品仍旧符合ISO26262质量认证要求。VersaPoint测试点技术不仅能够降低制造测试成本,还能改进在系统测试的质量——对于汽车和其他行业的高质量IC而言,这两条要求至关重要。Mentor还宣布RenesasElectronics已经在该公司的汽车IC中采用了VersaPoint技术,以解决安全关键的测试要求,从而达到汽车安全完整性级别(ASIL)C和D认证标准。

汽车IC中的数字电路通常混合采用片上压缩/ATPG和逻辑内建自测(LBIST)技术来进行测试,从而让制造测试达到极高的缺陷覆盖率,进而实现在系统测试和上电自测试。

测试点是用于改进测试效果的专用设计结构。传统的LBIST测试点通过解决IC中的“随机模式障碍”来改进测试结果。Mentor近期专门针对片上压缩/ATPG的混合使用开发了测试点,相对于仅使用片上压缩的情况,可将ATPG模式数减少2-4倍。TessentVersaPoint测试点技术组合了这些技术,并在它们的基础上进行了改进。

“为了提供业界领先的汽车IC产品,Renesas使用测试点来帮助达到严格的IC测试要求,”RenesasElectronicsCorporation汽车SoC业务部门副总裁HisanoriIto说道。“利用TessentVersaPoint测试点技术,我们再也无需针对不同类型的IC使用单独的解决方案。如此一来,只需通过制造和在系统测试,我们便能改进质量并降低成本。简化的DFT实施流程还可缩短开发周期,加快产品上市时间。”

与传统的LBIST测试点相比,TessentVersaPoint技术可以提高LBIST测试覆盖率。而与使用片上压缩/ATPG测试点相比,它还可以更好地减少ATPG模式数。这种技术是专为使用Tessent混合ATPG/LBIST技术的测试工程师而设计的,旨在降低测试成本、改进测试质量,特别是针对面向汽车应用的IC产品。

“随着设计尺寸不断增长,质量要求变得更加严格,我们的客户也一直在努力降低测试成本”,MentorTessent产品系列营销总监BradyBenware说道。“与此同时,市场对高可靠性应用中的高效在系统测试的需求也在持续增长。借助VersaPoint测试点技术,我们的客户可以通过更有效的方法,同时满足制造和在系统测试要求。”

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