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2025上海慕尼黑展圆满收官,镭晨多款新品亮相,共赋电子智造升级

2025-04-07 19:49 来源:网络 作者:

2025年3月26日-28日,为期三天的2025慕尼黑上海电子生产设备展(productronica China)圆满落幕。镭晨科技深耕工业光学检测十余年,以AI工业大模型技术为引擎,带来DIP炉后AO、DIP 3D AOI以及新一代3D AOI和3D SPI。以创新、先进的产品,吸引了众多观众驻足了解。

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在电子制造过程中,产品质量的检测是保障生产优良的重要环节。以汽车制造行业为例。汽车的特殊工作环境、安全性和大电流等要求特点,对PCBA的可靠性、稳定性等要求非常严苛。但由于元件布局密集或高矮器件的遮挡,在AOI检测过程中,常规的2D AOI只能获取正面图像,而传统的3D AOI因颜色算法局限性,以及成像易受干扰,极易出现误报漏报。

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镭晨科技展出的新一代3D AOI——AIS431,采用侧面多相机3D成像系统,一个投影搭配4个相机。无论是侧面丝印还是遮挡器件,结合侧面图像,都能获取更加全面的成像信息。而AI大模型技术的加持,能有效消除因器件遮挡、光线反射带来的成像拉尖、塌陷等,获取更加真实的3D成像,让新一代3D AOI的检测能力更上一层楼。

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例如爬锡引脚的检测。传统AOI通过向物体投射不同角度的摩尔条纹光被主相机接收,由于引脚密集、光线受影响,导致出现过渡拟合的问题,引脚成像不全面,极易出现误报。现在,结合多个侧面图像,我们可以获取更多视角的图像信息,结合AI算法剔除噪声,保留引脚爬锡坡度的细节,为不良检测夯实基础。

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新一代3D AOI在上海慕尼黑展会一经展出,便吸引了众多观众现场体验,“我们的产品工艺越来越复杂,之前试用过很多3D AOI,都很难满足我们全面的检测需求。镭晨新一代3D AOI采用了多侧面相机,成像更全面、检测速度更快,今天过来展会真是收获惊喜”!

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除了SMT段的3D AOI,镭晨科技搭载了上照2D检测、下照3D检测的DIP 3D AOI,在展会现场也是备受瞩目。DIP 3D AOI——AIS550能同时进行元件2D检测以及底面焊点引脚长度、锡珠等3D检测,满足工厂愈加精细化的插件检测需求。此外,镭晨科技也研发出下照式3D以及双面3D检测AOI,满足企业更柔性化的检测场景,快速响应细分领域的不同检测需求。

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当下,电子制造行业正处于持续变革的浪潮之中。对于工业视觉检测设备厂商而言,唯有达成技术的全方位突破,推动产品能力创新迭代,才能契合不断演变的市场需求。镭晨科技始终秉持创新精神,以技术创新为根基,不断突破行业技术瓶颈,实现产品的高效迭代,深刻践行“做最好用的AOI”的使命,为电子制造行业高质量发展贡献力量。


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