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NI展示Pre-5G波形产生/量测技术

2017-07-31 10:03 来源: 新电子 作者:

国家仪器(NI)日前于夏威夷檀香山举行的2017年国际微波会议(InternationalMicrowaveSymposium,IMS)中,正式展示Pre-5G波形产生与量测技术。该场技术展示主要强调Verizon5G技术论坛(5GTF)与3GPP提议之新无线电(NR)物理层,在讯号产生与波形分析的代表性地位。

NI展示Pre-5G波形产生/量测技术

NI展示Pre-5G波形产生/量测技术

NI无线设计与测试部门副总裁CharlesSchroeder表示,在测试与量测作业上,由于该公司通常采取软件为主的方式,得以随着软件开发一并革新PXI测试系统,透过这类做法,工程师日后便能采用目前用来测试LTE-A与LTE-APro产品的相同VST架构测试系统,来测试5G产品。

此次技术展示结合运用了1GHz带宽的PXIe-5840第二代向量讯号收发器(VST),以及用于调变及解调的Pre-5G软件。重要的波形调变功能,则包括同时支持离散傅立叶变换展频正交频分多任务(DFT-S-OFDM)与正交频分多任务存取(OFDMA),以及弹性的子载波间距与组件载波组态,后者可支持3GPP5GNR与Verizon5GTF规格,且总支持带宽高达1GHz。此项技术展示的传统应用范围包括测试RFIC,例如RF功率放大器、前端模块与收发器。

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