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PCB可测试性设计技术

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  • PCB可测试性设计技术要概述

    随着PCB技术进入超大规模集成(VLSI)时代,VLSI电路的高度复杂性及多层印制板、表面封装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的运用,都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消[详细]

    2017-09-07 09:58 分类:科技新品

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